刘军平 华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室 武汉 430074周可 华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室 武汉 430074雷栋梁 华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室 武汉 430074庞丽萍 华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室 武汉 430074
摘 要:廉价冗余磁盘阵列(RAID)的可靠性是一个研究热点．当磁盘的失效率符合泊松同分布时，可以利用一般的可靠性理论来计算磁盘阵列的可靠性．然而，当磁盘的失效率分布不符合泊松同分布时，继续利用传统的可靠性评估理论来评估RAlD的可靠性就显得不太合适．提出了一种基于蒙特卡洛随机仿真的可靠性仿真方法来评估RA
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